芯片熒光分析

服務(wù)介紹：

可分析各指標(biāo)陽(yáng)性面積相關(guān)參數(shù)，包含：平均光密度值、陽(yáng)性面積比、陽(yáng)性面密度。一次分析即可獲取該指標(biāo)陽(yáng)性面積相關(guān)參數(shù)的三個(gè)數(shù)值。陽(yáng)性面積相關(guān)參數(shù)均可用于評(píng)價(jià)陽(yáng)性強(qiáng)弱多少。

1.平均光密度值=IOD/陽(yáng)性像素面積。反映陽(yáng)性信號(hào)的平均深淺，用陽(yáng)性深淺評(píng)價(jià)陽(yáng)性強(qiáng)弱。適用于陽(yáng)性成片且廣泛表達(dá)的情況。

2.陽(yáng)性面積比=陽(yáng)性面積/組織面積。反映陽(yáng)性面積的多少，適用于陽(yáng)性成片且廣泛表達(dá)的情況。例如：AD模型腦組織Aβ陽(yáng)性淀粉樣蛋白沉積范圍多少的分析。

3.陽(yáng)性面密度=IOD/組織像素面積。反映待測(cè)量組織區(qū)域內(nèi)陽(yáng)性的平均深淺，適用于組織上陽(yáng)性成片表達(dá)且分布不均勻的情況。

分析圖像類型：掃描文件格式：MIRAX (mrxs)；

注意事項(xiàng)：如無(wú)特殊要求默認(rèn)分析整張掃描文件,如有特殊部位及分析要求,請(qǐng)?zhí)崆案嬷?/p>